電解式鍍層測(cè)厚儀生產(chǎn)廠(chǎng)家

電解（庫(kù)侖）法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。

該方法能測(cè)量各種基材上金屬鍍層的厚度。

許多常見(jiàn)的單層和多層鍍層都可以用DJH系列電解測(cè)厚儀精確測(cè)量。

操作簡(jiǎn)便、高效，提高成本效益，因而廣泛應(yīng)用于電鍍層質(zhì)量的檢查。

技術(shù)特性

測(cè)量鍍種：標(biāo)準(zhǔn)配置：可測(cè)Cr、Ni、Cu、Zn、Sn、Ag、Au、Cd、Co、In、Pb等單金屬鍍層，復(fù)合鍍層（如Cr/Ni/Cu）， 合金鍍層（NiP、ZnNi、SZn、SPb、PMA等）約20幾種鍍層/基體組合。

多層鎳每層厚度及鎳層間電位差

鍍層底材：金屬、非金屬、釹鐵硼等（底材基本上不受限制）

鍍層層數(shù)：?jiǎn)螌蛹皬?fù)合多層

測(cè)試尺寸：φ2.4mm、φ1.7mm（可選配φ1.2,φ1.0,φ0.8）

數(shù)據(jù)處理：

               聯(lián)機(jī)時(shí)：電腦顯示器實(shí)時(shí)顯示測(cè)試過(guò)程中厚度及電位變化曲線(xiàn)， 測(cè)試結(jié)果可保存于電腦中，隨時(shí)查閱 可打印測(cè)試報(bào)告

              單機(jī)時(shí)：儀器液晶顯示屏顯示測(cè)試過(guò)程中厚度值和電位值， 測(cè)試結(jié)果不能存儲(chǔ)， 可打印單次數(shù)據(jù)和數(shù)次數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)報(bào)告

測(cè)量范圍： 0～300μm（使用范圍0.03～75um，超過(guò)75um，誤差會(huì)逐漸變大）

示值誤差： ≤±10%

重現(xiàn)性： ≤5%

分辨率： 厚度：0.01μm；電位：0.01mv

電位范圍： 0~3000mv

電位精度： 0.01mv

3．配套性 可由我司提供電腦（費(fèi)用詳詢(xún)），也可客戶(hù)自配電腦，電腦必須是windows簡(jiǎn)體中文操作系統(tǒng)，XP、WIN7、WIN8、WIN10不受限制

電解式鍍層測(cè)厚儀生產(chǎn)廠(chǎng)家，電解（庫(kù)侖）法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。該方法能測(cè)量各種基材上金屬鍍層的厚度。